质谱

出版时间：2012-1  出版社：科学出版社  作者：格罗斯  页数：753  
Tag标签：无  

内容概要

　　《质谱(原著第2版)(英文版)》作为一部成功的教科书，其全新修订的第2版在内容上得以充分的扩展，以其详尽和准确的叙述，精美的插图和照片为读者津津乐道。?新增串级质谱法，涵盖了仪器设备、离子激活方法（CID，ECD，ETD，IRMPD）及其应用?新增敞开式质谱（DART，DESI等），新增无机质谱，包含元素形态分析和成像，?新增了所有章节的学习目标，新增先进仪器介绍，诸如orbitraps、线性离子阱、串级TOFs、FT-ICR，以及各种联用仪器。JurgenH.Gross对书中的概念、方法和技术做出了深入的阐述。指导学生和专业人员从新手逐步成长为质谱应用的行家里手。JurgenH.Gross首先介绍了气相离子化学原理、同位素组成和精确质量，然后是各种质量分析器和离子化方法的设计，最后是质谱图的解析和联用技术。可以说《质谱(原著第2版)(英文版)》是实用信息和基于丰富文献的理论知识的完美结合。

作者简介

作者：(德国)格罗斯(Gross Jürgen H)

书籍目录

Table of Contents
1 Introduction
　Learning Objectives
　1.1 Aims and Scope
　1.1.1 Filling the Black Box
　1.2 What Is Mass Spectrometry？
　1.2.1 Mass Spectrometry
　1.2.2 Mass Spectrometer
　1.2.3 Mass Scale
　1.2.4 Mass Spectrum
　1.3 Ion Chromatograms
　1.4 Performance of Mass Spectrometers
　1.4.1 Sensitivity
　1.4.2 Detection Limit
　1.4.3 Signal-to-Noise Ratio
　1.5 Terminology - General Aspects
　1.5.1 Basic Terminology in Describing Mass Spectra
　1.6 Units, Physical Quantities, and Physical Constants
　References
2 Principles of Ionization and Ion Dissociation
　Learning Objectives
　2.1 Gas Phase Ionization by Energetic Electrons
　2.1.1 Formation of Ions
　2.1.2 Processes Accompanying Electron Ionization
　2.1.3 Ions Generated by Penning Ionization
　2.1.4 Ionization Energy
　2.1.5 Ionization Energy and Charge-Localization
　2.2 Vertical Transitions
　2.3 Ionization Efficiency and Ionization Cross Section
　2.4 Internal Energy and the Further Fate of Ions
　2.4.1 Degrees of Freedom
　2.4.2 Appearance Energy
　2.4.3 Bond Dissociation Energies and Heats of Formation
　2.4.4 Randomization of Energy
　2.5 Quasi-Equilibrium Theory
　2.5.1 QET's Basic Premises
　2.5.2 Basic QET
　2.5.3 Rate Constants and Their Meaning
　2.5.4 k（E） Functions - Typical Examples
　2.5.5 Reacting Ions Described by k（E）Functions
　2.5.6 Direct Cleavages and Rearrangement Fragmentations
　2.6 Time Scale of Events
　2.6.1 Stable, Metastable, and Unstable Ions
　2.6.2 Time Scale of Ion Storage Devices
　2.7 Internal Energy - Practical Implications
　2.8 Reverse Reactions and Kinetic Energy Release
　2.8.1 Activation Energy of the Reverse Reaction
　2.8.2 Kinetic Energy Release
　2.8.3 Energy Partitioning
　2.9 Isotope Effects
　2.9.1 Primary Kinetic Isotope Effects
　2.9.2 Measurement of Isotope Effects
　2.9.3 Secondary Kinetic Isotope Effects
　2.10 Determination of Ionization Energies
　2.10.1 Conventional Determination of Ionization Energies
　2.10.2 Improved IE Accuracy from Data Post-Processing
　2.10.3 IE Accuracy - Experimental Improvements
　2.10.4 Photoionization Processes
　2.11 Determining the Appearance Energies
　2.11.1 Kinetic Shift
　2.11.2 Breakdown Graphs
　2.12 Gas Phase Basicity and Proton Affinity
　References
3 Isotopic Composition and Accurate Mass
　Learning Objectives
　3.1 Isotopic Classification of the Elements
　3.1.1 Monoisotopic Elements
　3.1.2 Di-isotopic Elements .
　3.1.3 Polyisotopic Elements
　3.1.4 Representation of Isotopic Abundances
　3.1.5 Calculation of Atomic, Molecular, and Ionic Mass
　3.1.6 Natural Variations in Relative Atomic Mass
　3.2 Calculation of Isotopic Distributions
　3.2.1 Carbon: An X+I Element
　……
4 Instrumentation
5 Practical Aspects of Electron Ionization...
6 Fragmentation of Organic Ions and Interpretation of E1 Mass
Spectra
7 Chemical Ionization
8 Field Ionization and Field Desorption
9 Tandem Mass Spectrometry
10 Fast Atom Bombardment
11 Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization
12 Electrospray Ionization
13 Ambient Mass Spectrometry
14 Hyphenated Methods
15 Inorganic Mass Spectrometry
Appendix
Subject Index

章节摘录

版权页：插图：Applied to solid materials, especially semiconductors and thin films, SIMS candetermine trace levels of all elements in the periodic table. Spatial microanalysis isprovided by collimating the primary ion beam to about 1 prn in diameter and con-trol of where the beam strikes the sample surface. This way, SIMS provides lateraland depth distributions of these elements within the sample. Currently, SIMS isbeing adapted to achieve lateral resolutions well below 100 nm. The driving forcecomes from the progress in microelectronics aiming at structures that approach10 nm. Also, the depth resolution needs to come close to the atomic scale.SIMS surface analysis is classified into two modes of operation, the so-calledstatic SIMS and dynamic SIMS mode. Static SIMS employs an extremely lowsputtering rate, often with a pulsed primary ion beam, for better sensibility to thecharacteristics of the top monolayer and even may reveal molecular information（see below）.

媒体关注与评论

“……截至目前我见过的最好的质谱教科书之……”　　——International Journal of Mass Spectrometry“这是一本很好的现代质谱教科书……如此系统的质谱教科书国内尚不多见，尤其是对质谱新技术的介绍值得称道……”　　——刘虎威，北京大学化学与分子工程学院

编辑推荐

《质谱(原著第2版)(英文版)》是国外化学经典教材系列之一。

用户评论 (总计15条)

•   质谱领域权威书，推荐给有英文基础的研究生以上科研人员使用。
•   一本有关质谱的好书，替女儿买的。 昨晚订的今天中午就到了，真的很快！
•   很好 是科学出版社的正规出版物 虽然是影印版 也很清楚 图也不错 适合我的需要
•   经典书籍,很有帮助。
•   刚买来，书内容比较新，全英文读起来还得有些费力
•   已经看了几百页了，不错！
•   为什么我下单了之后，就降价了…………亏了我25块！！！强烈不满意这样的价格变化！！！！
•   看看再说，感觉还行
•   这本书给我的时候就是旧书，我要退掉确不给退，我买了不少书，这本真的是来的时候就旧，旧的样子放我这一两天不可能是那样
•   想要学习一下MS，而外文书是最好的途径。这本书是2010年编的，2012年影印引入中国大陆。粗粗浏览了下，内容很不错，较新的一些技术都包括进去了。当然我是菜鸟，希望质谱专业人士能给予更专业的意见。影印这种方式真是太好了！要不原版的价格，真是伤不起！碰上满120减20，当时定价正好120（原价150，八折，稍高了点）。加上折上九折，也算便宜了。不过，订完后马上发现其价格立马变成了106.2元（7.1折）！亚马逊的商品价格真是个玩笑啊。
•   0.这本书更像一本手册，而不是一本教材。1.全书覆盖的内容较为全面，但是这样一来也没有了重点。2.章节安排的顺序还有待改进。3.理论过多，具体的实例过少。从这点上说，该书是写给质谱学家的，而不是普通的分析工作者的。4.作者是德国人，英语似乎不是很好。一些句子较难理解。总之，不太适合初学者。
•   还可以 不知道要看多久
•   这是第二版，内容更加详实，并增加了质谱技术最近几年的新技术的的介绍，刚开始读，感觉全英语，有些吃力，不过为了学好质谱，还是要读下去
•   对于质谱初学者是一本实用的指导。
•   很喜欢。希望国内多一些影印版英文原著！