电子元件测量基础

出版时间：2000-10  出版社：华中科技大学出版社  作者：刘希富  页数：126  字数：192000  
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内容概要

本书全面地、系统地介绍了电子元件参数的基本测量方法、测量原理及有关测量技术，同时对误差理论及电子元件测量新技术作了必要的阐述。全书包括绪论、误差理论、基本测量技术、电子元件阻抗测量方法、电子元件基本参数的测量、电子元件其它参数的测量、电子元件测量新技术等七章。    本书为中专电子元件专业的统编教材，也可作为相应专业的技工学校、职工培训的教材，同时，对于从事电子元件测量的技术工人和工程技术人员也有一定的参考价值。

书籍目录

第一章 绪论 1.1 电子元件测量的意义与特点 1.2 测量与计量 1.3 电子元器件评定体系简介 习题一第二章 误差理论和数据处理 2.1 误差的基本概念 2.2 随机误差 2.3 系统误差 2.4 误差的合成与分配 2.5 测量数据的处理 习题二第三章 基本测量技术 3.1 测试信号源  3.2 电压测量 3.3 示波测量 习题三第四章 阻抗的测量  4.1 等效串、并联电路 4.2 电子元件测量中的连接技术 4.3 电桥法 4.4 谐振法 4.5 虚、实部分离法 4.6 阻抗的常用测量方法比较 习题四第五章 电子元件基本参数的测量 5.1 电子元件参数的基本定义 5.2 电子元件的检验要求 5.3 电阻器参数的测量 5.4 电容器参数的测量 5.5 电感器参数的测量 5.6 电子元件测量中的抗干扰技术 习题五第六章 电子元件其它参数的测量 6.1 电阻元件噪声的测量 6.2 电子元件非线性的测量 6.3 电子元件温度系数的测量 6.4 电子元件抗电强度的测量 习题六第七章 元件测量新技术 一、测量技术发展的新动向 二、VXI产品的应用及其前景展望 三、虚拟仪器 习题七参考文献