硅多晶真空区熔基硼检验方法

出版时间:2008-2  

内容概要

《硅多晶真空区熔基硼检验方法(GB/T 4060-2007)》是对国家标准GB/T 4060—1983,与其相比,主要变动如下:1、测杂质浓度范围扩大为0.002×10-9~100×10-9;2、增加了“规范性引用文件”、“术语”、“允许差”、“计算”;3、将原标准中的第5章“检验条件”修订为“干扰因素”;4、将原标准中的取样位置修订为距多晶硅棒表面不低于5 mm,距多晶硅棒底部不低于50 mm;5、将原标准中的试样尺寸范围修订为直径15 mm~20 mm,长度为180 mm。

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