计算机辅助测试技术导论

出版时间：2004-2  出版社：电子工业出版社  作者：刘凤新等编  页数：140  字数：225000  

内容概要

　　 本书主要介绍了构成自动测试系统的相关内容，有两大部分组成。第一部分内容主要包括通用接口总线（GPIB）分析，仪器通用总线接口设计，进而介绍如何用带GPIB的仪器构成自动测试系统。第二部分内容重点讨论计算机对模拟电路的控制与测试，以模拟集成电路测试系统TM7为例，主要讨论了自动测试系统的硬件层次结构，测试仪的接口及控制，测试仪高级测试语言，适配器原理，测试系统软件设计等内容。本书还对USB总线及VXI技术做了简单的介绍。
    本书内容新颖，实用性强，可作为计算机硬件、检测与仪表、电子信息工程等相关专业大学本科高年级学生的选修课或研究生教材，也可供相关领域的工程技术人员参考。

书籍目录

第一部分 用现有仪器构成自动测试系统 第1章 自动测试系统概述  1.1 自动测试系统的组成  1.2 自动测试系统的分类  1.3 现代自动测试系统的特点 第2章 通用接口总线概述  2.1 概述  2.2 接口基本性能及仪器功能  2.3 总线结构  2.4 接口基本特性 第3章 通用接口总线协议编码  3.1 信息分类  3.2 接口信息及编码  3.3 设备信息及编码 第4章 接口功能  4.1 清除功能（DC）  4.2 设备触发功能（DT）  4.3 听功能（L）  4.4 讲功能（T）  4.5 源功能（SH）  4.6 受功能（AH）  4.7 服务请求功能（SR）  4.8 远程/本地功能（RL）  4.9 控者功能（C） 第5章 USB及虚拟仪器  5.1 USB总线协议简介  5.2 基本结构简介  5.3 USB协议总览  5.4 连接特性  5.5 VXI概念第二部分 模拟集成电路测试系统 第6章 CAT概述及TM7简介  6.1 CAT概述  6.2 TM7简介 第7章 测试语言简介  7.1 BASIC语法定义  7.2 TBASIC命令  7.3 TBASIC的语句  7.4 测试用的新增函数  7.5 其他语句组  7.6 数字测试扩展语句  7.7 如何使用TBASIC7  7.8 测试语言的深层次讨论 第8章 TM7的硬件  8.1 TM7的硬件系统结构  8.2 硬件的层次结构（三层结构）  8.3 TM7的接口控制电路的几个问题  8.4 TM7的数字电路  8.5 模拟电路 第9章 基本种类IC的测试  9.1 运算放大器的测试  9.2 集成三端稳压器的测试  9.3 DAC的测试  9.4 ADC的测试及适配器的工作原理 第10章 测试仪系统软件的开发及仪器自检和校准  10.1 系统软件的结构  10.2 自检原理及算法  10.3 校准  10.4 TM7的校准和模拟量自检方法  附录A TBASIC命令表  附录B 函数表  附录C 测试语句表  附录D TBASIC错误信息表英文缩略词英汉对照表参考文献