数字系统的故障诊断与可靠性设计

出版时间：2000-4  出版社：清华大学出版社  作者：杨士元编  
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内容概要

本书主要介绍以下三部分内容：数字系统测试和故障诊断技术的理论和技术，其中重点介绍了测试向量的生成技术和方法以及测试向量的优化技术；数字系统可测性设计的基本概念和相关技术，其中对边界扫描设计的原理和有关标准IEEE 1149.1作了较详细的叙述；数字系统的可靠性设计，包括数字可靠性的基本概念，硬件容错技术，全自检技术，编码纠错技术和软件容错技术等。此外，书中附有习题和答案或提示。
本书是自动化

书籍目录

第1章
绪论
1.1
数字系统测试的发展概况
1.2
故障和故障模型
1.3
自动测试与故障诊断及检测
1.4
有关异或运算的一些问题
参考文献第2章
组合逻辑电路的测试
2.1
伪穷举法测试
2.1.1
单输出电路
2.1.2
多输出电路
2.2
布尔差分法
2.2.1
一阶布尔差分
2.2.2
高阶布尔差分
2.2.3
偏差分
2.2.4