微束分析国家标准汇编

出版时间：2009-10  出版社：中国标准出版社  作者：中国标准出版社第二编辑室  页数：572  

内容概要

本标准等同采用ISO 14595：2003《微束分析电子探针分析标准样品技术条件导则》（英文版）。    为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改：    ——“本国际标准”一词改为“本标准”；    ——用小数点“.”代替作为小数点的逗号“，”；    ——删除国际标准的前言。    本标准代替GB/T 4930—1993《电子探针分析标准样品通用技术条件》，因为国际上的发展原标准在技术上已不适用。    本标准对GB/T 4930—1993进行了全面修改：    ——标题：将GB/T 4930—1993原标题“电子探针分析标准样品通用技术条件”改为“微束分析  电子探针分析标准样品技术条件导则”；    ——所有技术条文的项目、内容、结构顺序都作了变动，运用的技术方法更先进，更合理；    ——标样材料不均匀性检测及其数据统计处理改用美国国家标准技术研究院（NIST）和英国国家    物理实验室（NPL）共同研制的检测和统计方法；    ——将标样分级的概念引入本标准，使制作和应用标样的领域扩大，更合理，更全面。    本标准的附录B为规范性附录，附录A、附录C为资料性附录。    本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。

书籍目录

GB/T 4930—2008　微束分析　电子探针分析　标准样品技术条件导则GB/T 15074—2008  电子探针定量分析方法通则GB/T 15244—2002　玻璃的电子探针定量分析方法GB/T 15245—2002　稀土氧化物的电子探针定量分析方法GB/T 15246—2002　硫化物矿物的电子探针定量分析方法GB/T 15247—2008　微束分析  电子探针显微分析  测定钢中碳含量的校正曲线法GB/T 15616—2008　金属及合金的电子探针定量分析方法GB/T 15617—2002　硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法GB/T 16594—2008　微米级长度的扫描电镜测量方法通则GB/T 17359—1998  电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则GB/T 17360—2008　钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法GB/T 17361—1998  沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法GB/T 17362—2008　黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法GB/T 173631—2009　黄金制品金含量无损测定方法　第1部分：电子探针微分析法GB/T 173632—2009　黄金制品金含量无损测定方法　第2部分：综合测定方法GB/T 17365—1998　金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法GB/T 17366—1998　矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法GB/T 17506—2008　船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法GB/T 17507—2008  透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件GB/T 17722—1999　金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法GB/T 18295—2001  油气储层砂岩样品扫描电子显微镜分析方法GB/T 18735—2002  分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范GB/T 18873—2008  生物薄试样的透射电子显微镜一X射线能谱定量分析通则GB/T 18907—2002　透射电子显微镜选区电子衍射分析方法GB/T 19499—2004　表面化学分析数据传输格式GB/T 19500—2004　X射线光电子能谱分析方法通则GB/T 19501—2004  电子背散射衍射分析方法通则GB/T 19502—2004　表面化学分析　辉光放电发射光谱方法通则GB/T 20175—2006  表面化学分析  溅射深度剖析  用层状膜系为参考物质的优化方法GB/T 20176—2006  表面化学分析  二次离子质谱　用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度GB/T 20307—2006  纳米级长度的扫描电镜测量方法通则GB/T 20724—2006  薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法GB/T 20725—2006　波谱法定性点分析电子探针显微分析导则GB/T 20726—2006　半导体探测器X射线能谱仪通则GB/T 21006—2007  表面化学分析  X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪  强度标的线性GB/T 21007—2007　表面化学分析　信息格式GB/T 21636—2008　微束分析  电子探针显微分析（EPMA）  术语GB/T 21637—2008　冠状病毒透射电子显微镜形态学鉴定方法68/T 21638—2008　钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则GB/T 22461—2008　表面化学分析　词汇GB/T 22462—2008　钢表面纳米、亚微米尺度薄膜　元素深度分布的定量测定  辉光放电原子发射光谱法GB/T 22571—2008  表面化学分析  X射线光电子能谱仪  能量标尺的校准GB/T 22572—2008  表面化学分析  二次离子质谱  用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法